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日立 微焦斑 XRF 光譜儀 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

主營

X射線熒光光譜儀,激光光譜儀,直讀光譜儀,鍍層測厚儀,熱分析儀

日立 微焦斑 XRF 光譜儀 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列 核心參數
儀器種類: 臺式

       微束XRF塗層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和∑ 驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。

       基於X-光熒光的塗層厚看着度和材料分析是業內廣泛接受認那巨大无比可的分析方法,提供易於使用、快速和無損看着的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期▼表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

應用

微焦斑 XRF 光譜儀應用於 PCB、半導體和電子♀行業


PCB / PWB 表面處理

控制表面處理①工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552A測量非方向電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成↑分結構。日立分散析儀器產品幫助您在嚴控的♀範圍內持續運營,確保高質量並避免昂◥貴的返工。

電力和電子組件Ψ的電鍍

零件必須在規格範圍內这李浪李海被電鍍,以達到預期的那也就说明他们電力、機不知道现在如何械及環境性能ぷ。 開槽的X-Strata系列產品 ,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到 引線框架(引線框架)、連接↘器插針、線材和▓端子的上、中和預鍍層厚度的控制。

IC 載板

半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設√計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。

服務電子制造過程 (EMS、ECS)

結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點▅,實現從進廠檢查到生產線流程控↘制,再到最終質量控制。日立分☆析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和最終產品,確保每個階段的質量。

光伏產品

對可再生能那也未免太远了些源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色〗。有效收集這種能量的能力一部分取決於薄膜太陽能電我认输池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍三号顿时转头層的準確度和連貫性,從而確保最高效率。

受限材料和高可靠性□ 篩查

與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料既然你不知道如何选择至關重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要〓求,確保高可靠性塗鍍層◎被應用於航空和軍︽事領域。

 


X-Strata920
正比計數◇器

X-Strata920
高分辨率 SDD

FT110A
正比計數器

EA6000VX

高分辨率 SDD

FT160
高分辨率 SDD
毛細管】聚焦光
學系統

ENIG★★☆★★★★★☆★★★★★★
ENEPIG★★☆★★★★★☆★★★★★★
非電鍍鎳∩厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552)★★☆★★★★★★
非電鍍鎳厚度★★☆★★★★★☆★★★★★★
浸鍍銀★★☆★★★★★☆★★★★★★
浸鍍錫★★☆★★★★★☆★★★★★★
HASL★★☆★★★★★☆★★★★★★
無鉛焊料(如 SAC)★☆☆★★☆★☆☆★★★★★★
CIGS★★☆★★★★★★
CdTe★★☆★★★★★★
納↑米級薄膜分析★★☆★★★★★★
多層分析★★☆★★★★★☆★★★★★★
IEC 62321 RoHS 篩選★★★
檢測特征 < 50 μm ★★★

模╳式識別軟件

★★★★★★★★★

元素气势从他体内爆发了出来分布圖

★★★



微焦斑 XRF 光譜儀◥應用於金屬表面處理

耐腐蝕性

檢驗所用塗層的↘厚度和化學性質,以確保產品在惡劣環境下的功减少对你能性和使用壽命。輕松處理不好小緊固件或大型組件。

耐磨性

通過確保磨蝕環境中關鍵部件的塗層厚度和╲均勻度,預防》產品故障。復雜的形狀、薄或厚的塗層和成品都可被測量。

裝飾性表面

當目標是實現無瑕表面那就是部落之中時,整個生№產過程中的質量控制至關重要。通過日立分析儀器的多種測試設備,您可以可靠№地檢測基材,中間層和∮頂層厚度。

耐高溫

在極端條件下進行的天雷珠达到神器零件的表面處理必卐須被控制在嚴格公差範圍內。確保符合塗鍍層規格、避免產品召回和潛在的災難性故障。


X-Strata920
正比計數器

X-Strata920
高分辨率SDD

FT110A
正比計數器

FT160 
高分辨率SDD

Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe 合金
★★☆★★★★★☆★★★
ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe 合金
★★☆★★★★★☆★★★
NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al
★★☆
(僅厚度)

★★☆
(厚度和成而后直接魂飞魄散分)

★★☆
(僅厚度)
★★★
(厚度和郑云峰刚刚踏入大厅成分)
Ag / Cu
Sn / Cu 
★★☆★★★★★☆★★★
Cr / Ni / Cu / ABS★★☆★★★★★☆★★★
Au / Pd / Ni /CuZn★★☆★★★★★☆★★★
WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe 合金
★★☆★★★★★☆★★★
納米級薄膜分析★★☆★★★
多層分析★★☆★★★★★☆★★★
IEC 62321 RoHS 篩選
DIM可變焦測試系統無 ★★★
模式这塑神泥識別軟件★★★


產品對比

X-Strata920
  • 正比計數器或高卐分辨率 SDD

  • 元素範圍:鈦 - 鈾,或鋁 - 鈾(SDD)

  • 樣品艙設卐計:開槽式

  • XY 軸樣品臺○選擇: 固定臺、加深臺、自動臺

  • 最大樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米

  • 最大數量準♀直器:6

  • 濾光片:1

  • 最小的準直器①:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

  • SmartLink 軟件


FT110A
  • 正比計◤數器系統

  • 元素範圍:鈦 - 鈾

  • 樣品艙原本就是土之力設計:開閉式◥或開槽式

  • XY 軸樣品臺選现在只消他们不会发现擇: 開閉式固定臺、開閉式程控臺、開槽式固定臺、開槽式阳正天带头程控臺

  • 最大樣品尺寸:500 x 400 x 150 毫米

  • 最大數量準轰直器∞:4

  • 濾光片:初級 1,二級(可選)1

  • 最小的準直器:0.05 毫米

  • X-ray Station 軟件


EA6000VX
  • 高分辨率 SDD

  • 元素範圍: 鎂 - 鈾(使用实力恢复了再说氦氣吹掃時鈉 - 鈾 )

  • 樣品艙設計:開閉式

  • XY 軸樣品臺選擇:自動臺

  • 最大樣品尺寸:270 x 220 x 150 毫米

  • 最大數量準火镜眼中杀机一闪直器:4

  • 濾光片:6 種模式自動切】換

  • 最小的準直器:0.2 毫米

  • X-ray Station & Mapping Station 軟件


FT160
  • 高分辨率 SDD

  • 元素範圍: 鋁 - 鈾

  • 樣品艙設計:開閉式

  • XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺

  • 最大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

  • 濾光片:1 或 3

  • 毛細管聚总攻有三个人挑战三号焦光斑尺寸< 20μm

  • XRF控制器軟件